intelliwave 軟件(條紋分析軟件)

intelliwave中文版（bǎn）能夠（gòu）很好地（dì）進行所需的各項自動（dòng）化質量檢測，為你帶來相位測量服務，支持幹涉條紋的描繪功能，能夠很好地實現光程差的計算，幫助（zhù）用戶們應用到圖像加工等眾多行業帶來最佳的使用體驗！

intelliwave 漢化版（bǎn）介紹

Intelliwave是一種功能強大的幹涉圖形攫取和分析（xī）的（de）一套軟件，通常用於量測許多表（biǎo）麵（miàn）（材料）的外形（或是其他特性），包括（kuò）鏡（jìng）子、透（tòu）鏡、半（bàn）導（dǎo）體芯片、和其它許（xǔ）多（duō）反射（shè）或不（bú）反（fǎn）射（shè）的表麵。為了（le）推（tuī）斷鏡片（piàn）表麵外形（xíng），Intelliwave需（xū）要製造一個光學相位差來（lái）獲得幹涉圖（tú）形（xíng），因（yīn）為幹涉條紋圖是（shì）幹涉（shè）儀中（zhōng）的測試光及參考光（guāng）的（de）光（guāng）程（chéng）差而（ér）形成，藉著（zhe）幹涉（shè）圖形的（de）處理，主要在於鑒定待測光（guāng）學儀器的表（biǎo）麵外型。Intelliwave 結合了（le）攫取（qǔ）、輸（shū）入、分（fèn）析（xī）、以及許多實際（jì）幹涉圖形文檔（dàng）等等（děng）特性，更（gèng）提供了強（qiáng）大（dà）、快速、靈活性、容易（yì）使（shǐ）用（yòng）、還有（yǒu）廣泛數據信息的優點。

軟件特色

分析特性

Intelliwave提供（gòng）一套完整的分析（xī）工具（jù），包括（kuò）統計信息、像差、繞射分析、圖象加工、以（yǐ）及 幾何圖象轉換。 它支（zhī）持了多樣化幹涉（shè）圖形的處理技術，也可把幹涉（shè）圖轉換（huàn）成光學相（xiàng）位差(OPD)或（huò）表（biǎo）麵圖（surface map），Intelliwave還具（jù）有處（chù）理（lǐ）實時信息及對有雜（zá）訊的信息作有效（xiào）處理。

功能介（jiè）紹（shào）

使用範圍

光學統的（de）動態控製

全像攝影

極溫度（dù）（ Extreme Temperature）的應用

天文上的應用 : 天文鏡片、天文望遠鏡

對（duì）於非球狀光學結（jié）構有高分辨率

在半導體（tǐ）上的應用

高功率激光的外型和反射特性（xìng）的量（liàng）測

光學量測